泄漏電流試驗(yàn)：對(duì)被試的電氣設(shè)備絕緣加上一定的直流電壓, 在這個(gè)電壓下, 測(cè)量絕緣對(duì)地及相之間的泄漏電流, 以判斷設(shè)備絕緣狀況的方法.

直流泄漏電流試驗(yàn)是測(cè)量被試物在不同直流電壓作用下的直流泄漏電流值. 泄漏電流試驗(yàn)與測(cè)量絕緣電阻的原理基本相同, 不同之處在于：① 泄漏電流試驗(yàn)中所用的直流電源一般均由高壓整流設(shè)備供給如  直流高壓發(fā)生器或 系列交直流試驗(yàn)變壓器，電壓高并可任意調(diào)節(jié), 并用微安表來(lái)指示泄漏電流值；② 對(duì)不同電壓等級(jí)的被試物, 施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓, 可以更有效地檢測(cè)出絕緣受潮的情況和局部缺陷(能靈敏地反應(yīng)瓷質(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣的內(nèi)部受潮及局部松散斷裂、絕緣油劣化、絕緣的沿面炭化等)；③ 在試驗(yàn)過(guò)程中要根據(jù)微安表的指示, 隨時(shí)了解絕緣狀況.

對(duì)于絕緣良好的絕緣物, 其泄漏電流與外加直流電壓應(yīng)是線性關(guān)系, 但大量實(shí)驗(yàn)證明, 泄漏電流與外施直流電壓僅能在一定有電壓范圍內(nèi)保持近似的線性關(guān)系；當(dāng)直流電壓達(dá)到一定程度時(shí), 泄漏電流開(kāi)始不線性地上升, 絕緣電阻值隨之下降；當(dāng)直流電壓超過(guò)一定值后, 泄漏電流將急劇上升, 絕緣電阻值急劇下降, 后導(dǎo)致絕緣破壞, 發(fā)生擊穿. 在實(shí)際試驗(yàn)中, 所加的直流電壓應(yīng)選擇在使其伏安特性近似于直線. 當(dāng)絕緣全部或局部有缺陷或者受潮時(shí), 泄漏電流將急劇增加, 其伏安特性也就不再呈直線了. 因此, 通過(guò)試驗(yàn)可以檢出被試物有無(wú)絕緣或受潮, 特別是在發(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷方面, 此項(xiàng)試驗(yàn)更有其特殊意義。

泄漏電流試驗(yàn)時(shí)的吸收現(xiàn)象與絕緣電阻試驗(yàn)時(shí)一樣, 具有良好絕緣的大電容量試品的吸收現(xiàn)象十分顯著, 泄漏電流將隨著時(shí)間的延長(zhǎng)而下降. 如果在一定電壓下沒(méi)有吸收現(xiàn)象, 并且泄漏電流反而隨著作用時(shí)間的加長(zhǎng)而上升, 甚至微安表的指示擺動(dòng)或跳動(dòng), 則表明異常, 應(yīng)查明原因。

1、試驗(yàn)接線及設(shè)備儀器

通常用倍壓整流獲得直流高壓。用得比較多的有 系列直流高壓發(fā)生器，容量較大的可以選擇  交直流試驗(yàn)變壓器，該系列儀器已經(jīng)將升壓變壓器、整流元件、測(cè)量?jī)x表和微安表等組合成獨(dú)立的設(shè)備，其中整流元件采用高壓硅堆，硅堆置于高壓側(cè)。根據(jù)微安表的位置，主要分為：低壓接線法和高壓接線法。

低壓接線法 — 將微安表接在試驗(yàn)變壓器高壓繞組的尾部接線端。由于微安表處于低壓側(cè), 讀表比較安全方便，但無(wú)法消除絕緣表面的泄漏電流和高壓引線的電暈電流所產(chǎn)生的測(cè)量誤差，因此，現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)多采用高壓法進(jìn)行。

高壓接線法 — 將微安表接在試品前。這種接線法，由于微安表牌高壓側(cè)，放在屏蔽架上，并通過(guò)屏蔽線與試品的屏蔽環(huán)(濕度不大時(shí), 可以不設(shè), 而空置在試品側(cè))相連，這樣就避免了接線的測(cè)量誤差。但由于微安表處于高壓側(cè)，則會(huì)給讀數(shù)帶來(lái)不便。

2、試驗(yàn)步驟

(1) 接線完成后須由工作負(fù)責(zé)人檢查, 檢查內(nèi)容包括試驗(yàn)接線有無(wú)錯(cuò)誤, 各儀表量程是否合適, 試驗(yàn)儀器現(xiàn)場(chǎng)儀表布局是否合理, 試驗(yàn)人員的位置是否正確。

(2) 將被試品充分放電, 指示儀表調(diào)零, 調(diào)壓器置零位。

(3) 測(cè)量電源電壓值并分清電源的火、地線, 電源火、地線應(yīng)與單相調(diào)壓器的對(duì)應(yīng)端子相接。

(4) 加壓過(guò)程中, 根據(jù)微安表的指示情況應(yīng)采取的相應(yīng)措施為：

1) 指針抖動(dòng). 可能是微安表有交流分量通過(guò), 若影響讀出數(shù)值, 應(yīng)檢查微安表保護(hù)回路中的濾波元件是否完好.

2) 指針周期性擺動(dòng). 可能是回路中存在反充電使被試品產(chǎn)生周期性放電, 應(yīng)查明原因, 予以解決.

3) 若向大沖擊, 可能是回路中或試品出現(xiàn)閃絡(luò)或內(nèi)部斷續(xù)放電引起, 應(yīng)查明原因, 經(jīng)處理后再做試驗(yàn).

4) 指示值過(guò)大?？赡苁窃囼?yàn)設(shè)備狀況不良，在扣除不帶試品的泄漏電流值后才能做出正確的評(píng)價(jià).

5) 指示值過(guò)小. 可能是試驗(yàn)接線錯(cuò)誤或?qū)嶋H所加直流試驗(yàn)電壓不足. 應(yīng)改正接線或核實(shí)試品上的電壓后, 確定是否升壓.

6) 試驗(yàn)完畢, 應(yīng)先將升壓回路中的單相調(diào)壓器退回零位并切斷電源。

7) 每次試驗(yàn)后必須將被試品先經(jīng)電阻對(duì)地放電, 然后對(duì)地直接放電。可根據(jù)放電火花的大小大概了解其絕緣的狀況。

8) 再次試驗(yàn)前, 必須檢查接地線是否已從被試品上移開(kāi)。

3、影響泄漏電流的因素

(1) 高壓連接導(dǎo)線對(duì)泄漏電流的影響. 由于接往被試品的高壓連接導(dǎo)線暴露在空氣中, 當(dāng)曲率半徑較小處的電場(chǎng)強(qiáng)度高于20kV/cm時(shí), 沿導(dǎo)線表面的空氣將發(fā)生游離, 對(duì)地產(chǎn)生一定的泄漏電流, 因此, 影響測(cè)量結(jié)果. 增加高壓導(dǎo)線直徑、減少及增加對(duì)地距離、縮短連接導(dǎo)線長(zhǎng)度、采用屏蔽都可以減少這種影響。

(2) 表面泄漏電流的影響. 泄漏電流可分為兩種, 體積泄漏電流和表面泄漏電流. 表面泄漏電流的大小, 主要決定于被試品的表面情況, 如表面臟污和受潮等, 并不反映絕緣內(nèi)部的狀況, 不會(huì)降低電氣強(qiáng)度. 在泄漏電流試驗(yàn)中, 所要測(cè)量的是何種泄漏電流. 在惡劣條件下, 表面泄漏電流要比體積泄漏電流大很多, 將使試驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生很大誤差, 為了獲得比較正確的試驗(yàn)結(jié)果, 必須采用加屏蔽的辦法, 以消除表面泄漏電流的影響。

(3) 溫度的影響. 直流泄漏電流試驗(yàn)同絕緣電阻試驗(yàn)一樣溫度對(duì)試驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生的影響極為顯著. 對(duì)于B級(jí)絕緣的發(fā)電機(jī)來(lái)說(shuō), 當(dāng)溫度每增高 10 ℃，泄漏電流約增加0.6倍, 故對(duì)任何溫度下的泄漏電流值, 應(yīng)用下式換算至75℃時(shí)的泄漏電流。

在被試品溫度為30～80℃時(shí), 進(jìn)行泄漏電流試驗(yàn). 因?yàn)樵谶@樣的溫度范圍內(nèi), 泄漏電流的變化較為明顯. 在低溫時(shí)變化較小, 故應(yīng)在電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)剛停下后的熱狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn). 在低溫下, 尤其是在零度以下測(cè)量泄漏電流, 是得不到正確結(jié)果的。